고휘도 LED의 가속수명시험에 의한 실수명예측에 관한 연구

Abstract

본 논문에서는 범용으로 사용되고 있는 정방형 타입의 LED(Light emitting diode)의 신뢰성을 평가하기 위한 가속수명시험을 다루고 있다. 정격 전류 20 mA의 고휘도 LED를 시료로 선정하였으며, 가속변수로 온도를 설정하였다. 2개의 시험수준 70℃ 및 90℃에 22개 시료를 1400시간 동안 시험을 하였으며, 정해진 시점에서 시료의 광특성을 측정하여 수명데이터를 수집하였다. 이때 시료의 광출력값(휘도)이 초기대비 60%로 감소하면 고장으로 판정하였다. 와이블분포-아레니우스 모형을 가정하고 수명데이터를 분석하여 사용조건에서의 고휘도 LED 수명을 예측하였으며, 고휘도 LED의 수명이 온도에 의하여 가속됨을 확인하였고 정상상태에서 수명을 예측한 결과를 분석하였다.