자동차 부품의 BCI 시험에 따른 전류 주입 프로브 영향 분석

Author(s)
최윤상
Advisor
이교범
Department
IT융합대학원 IT융합공학과
Publisher
The Graduate School, Ajou University
Publication Year
2023-08
Language
kor
Keyword
EMC전자파
Abstract
본 논문에서는 전류 주입 프로브 에 따라 BCI (Bulk Current Injection)시험에 미치는 영향을 분석한다. <br>BCI 시험을 수행 할 때 순방향 전력을 교정하여 얻은 파라미터로 시험을 수행한다. <br>전류 주입 프로브의 등가회로 모델을 설명하고 종류에 따른 특성 을 비교 및 확인 한다. <br>프로브 의 종류에 따른 시험을 통하여 DUT에 미치는 영향과 전자기 방해 신호를 분석한다. <br>신뢰성 시험현장에서 분석한 결과를 통하여 전류 주입 프로브 의 선택에 도움을 주고자 한다.
URI
https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/24682
Fulltext

Appears in Collections:
Special Graduate Schools > Graduate School of IT Convergence > Department of IT Convergence Engineering > 3. Theses(Master)
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