광열 이미징 기법에서의 다양한측정 조건에 따른 재구성 정확도에 대한 수치적 연구

Alternative Title
The numerical study on the reconstruction accuracy of photothermal imaging method according to various parameters
Author(s)
이진섭
Advisor
김현정
Department
일반대학원 기계공학과
Publisher
The Graduate School, Ajou University
Publication Year
2017-08
Language
kor
Keyword
Photothermal광열효과광열편향법mirage deflection method
Abstract
광열 이미징 기법(photothermal imaging method)은 광열효과를 이용하여 재료 내부의 결함(defect)이나 패턴(pattern)을 찾아내는 비파괴 단층촬영 기법 중 하나이다. 광열 이미징 기법에서는 검출된 신호를 재구성(reconstruction)하는 과정이 필수적이며, 재구성된 결과의 분해능(resolution)은 이미징 기법의 성능에 있어 중요한 요소이다. 이에 대해 이전 연구자들은 측정조건(parameter)에 따른 분해능의 변화를 정성적으로 결론지었음을 확인하였다. 본 연구에서는 COMSOL을 통한 수치해석과 실제 시편에 대한 실험을 병행하여 해석에 대한 타당성을 검증한 후, 수치해석과 실험결과를 종합하여 분해능에 대한 정량적 결론을 내리고자 한다. 따라서 본 연구에서는 4 가지 폭의 내부 슬릿(slit)을 가지는 구리 시편을 대상으로 가열빔의 주파수 4 가지, 가열빔의 빔 반경 4 가지에 따라 해석 및 실험을 진행하고, 그에 대한 결과를 FWHM(fulll width half maximum)기법으로 내부 슬릿의 폭을 재구성하여 측정 조건에 따른 분해능 변화를 조사하였다.
URI
https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/19072
Fulltext

Appears in Collections:
Graduate School of Ajou University > Department of Mechanical Engineering > 3. Theses(Master)
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