소프트웨어 노화 요소를 이용한 임베디드 소프트웨어 가속 수명 시험 설계

Author(s)
신수연
Advisor
정기현
Department
일반대학원 전자공학과
Publisher
The Graduate School, Ajou University
Publication Year
2019-02
Language
kor
Abstract
본 논문에서는 소프트웨어 노화 현상 분석을 바탕으로 임베디드 소프트웨어의 수명 시험을 가속화하는 방법을 제안하고 이 방법의 유용성을 실험적으로 검증한다. 소프트웨어를 내장하는 많은 시스템들의 사용 기간 예측을 가속 수명 시험 방법들이 제안되고 있다. 본 논문에서 제안하는 방법은 하드웨어 및 소프트웨어 요소들을 고려하여 무기나 자동차 제어 장치 같은 임베디드 소프트웨어 환경에 맞게 설계되었다. 이를 위하여 소프트웨어 수명에 영향을 주는 다양한 노화 요소를 조사 분석하고, 이 노화 요소들과 하드웨어와 소프트웨어의 연관성을 고려하여 임베디드 시스템을 가속 수명 시험할 수 있는 방법을 제시하였다. 제시된 방법의 유용성을 확인은 실험적으로 진행되었다. 실험에서는 다양한 소프트웨어 노화 요소 중에서 임베디드 소프트웨어의 수명에 영향을 줄 수 있는 요소를 선택하였고, 실험에 사용된 하드웨어에 적용하여 수명 시험을 진행하였다. 실험 데이어 분석은 하드웨어 가속 수명 시험에서 일반적으로 많이 적용하는 데이터 분석법 및 수명 모델을 사용하였다.
URI
https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/14845
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Appears in Collections:
Graduate School of Ajou University > Department of Electronic Engineering > 3. Theses(Master)
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