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Special Graduate Schools
Graduate School of Science and Technology
Department of Information and Electronics Engineering
3. Theses(Master)
반도체메모리테스터에서 임베디드시스템의 사용방안에 관한 연구
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 김영길 | - |
| dc.contributor.author | 김창환 | - |
| dc.date.accessioned | 2018-11-08T07:40:16Z | - |
| dc.date.available | 2018-11-08T07:40:16Z | - |
| dc.date.issued | 2009-02 | - |
| dc.identifier.other | 9472 | - |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/6840 | - |
| dc.description | 학위논문(석사)--아주대학교 산업대학원 :정보전자공학과,2009. 2 | - |
| dc.description.tableofcontents | Ⅰ. 서 론 Ⅱ. 이론적 고찰 A. 임베디드시스템 1. 임베디드시스템이란 2. 특징 및 요구사항 3. 임베디드 시스템 구성 4. 국내외 현황 B. 반도체 테스터 시스템 C. 병렬 컴퓨터 1. 병렬 컴퓨터의 정의 2. 병렬 컴퓨터의 분류 Ⅲ. 반도체 테스터 시스템에서 임베디드시스템 A. 임베디드시스템을 사용하는 이유 B. 임베디드시스템을 활용한 테스터 장비 구성 1. 반도체 테스터 장비에서 시스템 구성 방안 2. CPU시스템간 연결 2. 임베디드 시스템의 Hardware 설계 4. 임베디드 시스템의 Software 설계 Ⅳ. 테스트결과 및 분석 A. Embedded System을 사용한 테스트 시간 분석 1. 실험 배경 및 기대치 2. 실험 결과와 해석 Ⅴ. 결 론 참고문헌 | - |
| dc.language.iso | kor | - |
| dc.publisher | The Graduate School, Ajou University | - |
| dc.rights | 아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다. | - |
| dc.title | 반도체메모리테스터에서 임베디드시스템의 사용방안에 관한 연구 | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.affiliation | 아주대학교 산업대학원 | - |
| dc.contributor.department | 산업대학원 정보전자공학과 | - |
| dc.date.awarded | 2009. 2 | - |
| dc.description.degree | Master | - |
| dc.identifier.localId | 567650 | - |
| dc.identifier.url | http://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000009472 | - |
| dc.subject.keyword | 메모리테스터 | - |
| dc.subject.keyword | 임베디드시스템 | - |
| dc.subject.keyword | 병렬분산처리시스템 | - |
| dc.description.alternativeAbstract | Nowadays, we use many funcution of IT in the semiconductor testing system. All of them, more important part is how to saving the test time. So, Tester Engineers is studying about the semiconductor testing sequence. We studied about Parallel testing sequence , and apply multi CPU system. This paper presents the multi cpu system in the semiconductor testing system. And , how to think about standard for multi cpu system operation. | - |
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