1~18GHz 대역 EMI 시험장 평가에 대한 유효성

DC Field Value Language
dc.contributor.advisor박익모-
dc.contributor.author이상협-
dc.date.accessioned2018-11-08T06:40:19Z-
dc.date.available2018-11-08T06:40:19Z-
dc.date.issued2010-02-
dc.identifier.other10806-
dc.identifier.urihttps://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/3494-
dc.description학위논문(석사)--아주대학교 산업대학원 :정보전자공학과,2010. 2-
dc.description.abstract시험인증, 즉 제품의 인증을 위한 시험은 시험결과의 부적합이나 적합을 판단하기 앞서 시험 데이타의 재현성이 우선이 되어야 한다고 생각합니다. 다시말해서 동일한 시료를 우리나라의 A 시험소의 Data와 우리나라 정 반대에 있는, 예를 들어 우루과이의 B 시험소의 Data가 각 시험소의 측정불확도의 차이만을 제외하고는 동일한 Data 결과가 나와야 하는것이 시험인증의 test의 기본 개념과 동시에 시험을 하는 목적이라고 생각합니다. 그에 따라 각 해당 시험의 법률과 지침이(Directive) 있고 시험방법이 전세계적으로 동일하게 적용되고 있는것도 기본개념과 목적에 벗어나지 않는것이라고 생각되어 집니다. 국내에만 EMC 시험을 할수 있는곳이 40여개, 전세계적으로 수백의 아니 수천개의 시험소가 존재하는것은 각 시험소의 물리적인 환경 또한 많은 차이가 있다고 생각되어집니다. 아무리 국제 규격(CISPR:국제무선장해 특별위원회)에 의해 동일한 각 시험장 평가에 대한 특성을 만족하더라도각 시험소에서의 물리적인 특성과 환경 조건은 차이가 있을수 있다고 생각되어 집니다. 이에 따라 시험장 평가에 특성과 더불어 그 외 외부적인 요소 또한 지침서에 구체적인 진술과 정량적인 수치(객관적인 진술)가 명시되어야 한다고 생각합니다. 이에 따라, 1GHz이상의 EMI 시험시 시험장 평가 방법인 SVSWR의 시험을 통해 사소한 물리적인 조건에 따라 데이타가 달라질수 있다는 것을 통해서 향후 시험장 평가 시험시 그외에 영향을 미치는 연구가 필요하다고 생각합니다.-
dc.description.tableofcontentsⅠ 1~18GHz 대역 EMI 시험장 규격 및 측정 조건 Ⅱ 2-1 1~18GHz EMI 시험장 규격에 대한 허용 기준 2-2 1~18GHz 대역 EMI 시험장 평가 절차에 필요한 안테나 요구 조건 2-2-1 송신 안테나의 E평면 방사 패턴 2-2-2 송신 안테나의 H평면 복사 패턴 2-3 시험장 평가 절차에 필요한 측정 위치 2-4 SVSWR추가 측정 위치 Ⅲ 18GHz 대역 EMI 시험장 평가 절차 3-1 표준 시험(Standard Test) 절차 3-2 등방 성장 프로브를 이용한 역방향 시험 절차 3-3 SVSWR 시험장 유효성 확인 시험 결과 보고서 3-4 측정시 고려사항 Ⅳ Site VSWR 측정 4-1 주요 측정 장비 4-2 적용 시험 조건및 측정 환경 4-3 측정 결과 Ⅴ고찰 참고 문헌-
dc.language.isokor-
dc.publisherThe Graduate School, Ajou University-
dc.rights아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.-
dc.title1~18GHz 대역 EMI 시험장 평가에 대한 유효성-
dc.title.alternativeValidation of EMI test-Sites evaluation above 1GHz-
dc.typeThesis-
dc.contributor.affiliation아주대학교 산업대학원-
dc.contributor.alternativeNameSang Hyeup Lee-
dc.contributor.department산업대학원 정보전자공학과-
dc.date.awarded2010. 2-
dc.description.degreeMaster-
dc.identifier.localId568277-
dc.identifier.urlhttp://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000010806-
dc.subject.keywordEMI-
dc.subject.keyword시험장-
dc.subject.keyword평가-
dc.subject.keyword유효성-
Appears in Collections:
Special Graduate Schools > Graduate School of Science and Technology > Department of Information and Electronics Engineering > 3. Theses(Master)
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