고장모드 기반의 임베디드 소프트웨어 테스트 선정방법

Abstract

최근 임베디드 시스템의 급성장으로 인하여 사용자 요구 기능이 많아짐에 따라 복잡한 알고리즘이 구현된 임베디드 SW가 탑재된 제품이 많아지고 있다. HW의 경우 과거부터 오랜 기간 동안의 연구를 통해 규격화되어 있는 테스트 기법이 많이 있기 때문에 상당히 안정화 되어 있어 같은 부품과 기능을 갖는 임베디드 시스템의 경우 SW에 의해서 그 품질이 좌우됨이 사실이다 기존의 임베디드 소프트웨어의 테스트 방법은 기능 중심으로 수행되어 잠재적인 고장을 찾아내기가 매우 어렵고 많은 시간이 소요된다. 특히 개발 단계에서 임베디드 소프트웨어의 신뢰성을 보증하기 위한 테스트는 시스템의 고장을 빨리 찾아내어 개선할 수 있어야 한다. 때문에 단시간 내에 품질을 보증할 수 있도록 체계적인 테스트 절차 및 테스트 방법론이 필요하게 되었다. 이에 본 연구에서는 임베디드 소프트웨어의 고장모드에 기반하는 테스트 방법론을 제시하고자 한다. 연구의 대상이 되는 임베디드 시스템의 기본적인 특성과 시스템의 고장속성에 대하여 기술하고 각 컴포넌트의 기능을 정의하여 고장모드를 분류하였다. 임베디드 시스템의 각 고장모드에 따라 적정 시험법을 산출하여 각 고장모드를 찾아낼 수 있는 테스트 케이스 생성 방법을 함께 제시하였다.