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Special Graduate Schools
Graduate School of Science and Technology
Department of Industrial Engineering
3. Theses(Master)
OLED 디스플레이의 가속인자와 시험시간
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 장중순 | - |
| dc.contributor.author | 유지선 | - |
| dc.date.accessioned | 2022-11-29T02:31:58Z | - |
| dc.date.available | 2022-11-29T02:31:58Z | - |
| dc.date.issued | 2018-02 | - |
| dc.identifier.other | 27272 | - |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/19452 | - |
| dc.description | 학위논문(석사)--아주대학교 일반대학원 :산업공학과,2018. 2 | - |
| dc.description.abstract | OLED 디스플레이는 색 재현력이 우수하고 두께가 얇고 가볍다. 또한 응답속도가 다른 디스플레이보다 빠르다는 장점을 가지고 있다. 이 외에도 많은 장점들 때문에 OLED는 차세대 디스플레이로 떠오르고 있다. OLED가 차세대 디스플레이로 부상하면서 일상생활에서 가장 많이 쓰이는 가전제품인 TV또한 OLED소자를 이용하기 시작하였다. OLED 디스플레이의 개발 속도가 빨라지고 성능 향상이 빠르게 진행됨에 따라 사용 환경에서 높은 신뢰성 확보와 수명예측의 필요성은 OLED산업의 주요 이슈가 되고 있다. OLED 디스플레이 제품의 수명추정은 시험시간을 단축하고 비용을 절감하기위해 사용조건보다 가혹한 조건에서 시험을 실시하는 가속수명시험을 실시한다. OLED의 가속수명시험은 일반적으로 온도와 전류를 가속인자로 사용한다. 따라서 본 연구에서도 대형 OLED디스플레이의 수명을 추정하고자 온도와 전류를 가속인자로 사용하여 가속수명시험을 실시하였다. 그 결과 휘도가 상승하는 구간이 나타나는 것을 확인하였다. 열화패턴을 파악하고 그로부터 수명을 추정하는 가속수명시험에서 휘도 상승구간이 나타나면 시험시간이 길어지고 추정된 수명이 부정확해 질 우려가 있다. 이러한 휘도상승구간을 줄이기 위하여 본 논문에서는 온도가속인자를 제외하고 전류밀도만을 가속인자로 사용하여 가속수명시험을 재 실시하고 수명을 추정하였다. 또한 가속수명시험으로부터 얻은 열화데이터분석을 통하여 수명추정이 가능한 최소 시험시간을 정하는 방법을 제안하였다. | - |
| dc.description.tableofcontents | 제1장 서론 1 1.1절 연구 배경 및 목적 1 1.2절 연구 범위 및 내용 3 제2장 이론적 배경 5 2.1절 OLED(Organic light emitting diode) 디스플레이 5 2.2절 OLED 디스플레이 수명평가 지표와 수명예측 방법 9 2.3절 가속수명시험(Accelerated life test) 10 제3장 OLED 디스플레이의 가속수명시험 및 수명추정 16 3.1절 온도와 전류밀도를 가속인자로 사용한 OLED 디스플레이의 가속수명 시험 16 3.2절 전류밀도를 가속인자로 사용한 OLED 디스플레이의 가속수명 시험 19 제4장 열화데이터 분석을 통한 적정 시험시간 선정방법 28 4.1절 연구 배경 및 방법 28 4.2절 사례연구 30 제5장 결론 및 향후연구 39 | - |
| dc.language.iso | kor | - |
| dc.publisher | The Graduate School, Ajou University | - |
| dc.rights | 아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다. | - |
| dc.title | OLED 디스플레이의 가속인자와 시험시간 | - |
| dc.title.alternative | Acceleration Factors and Test Time for OLED Display | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.affiliation | 아주대학교 일반대학원 | - |
| dc.contributor.department | 일반대학원 산업공학과 | - |
| dc.date.awarded | 2018. 2 | - |
| dc.description.degree | Master | - |
| dc.identifier.localId | 800917 | - |
| dc.identifier.url | http://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000027272 | - |
| dc.subject.keyword | Accelerated Life Test | - |
| dc.subject.keyword | Acceleration Factors | - |
| dc.subject.keyword | OLED Display | - |
| dc.subject.keyword | Test Time | - |
| dc.description.alternativeAbstract | OLED display has many advantages such as thin, fast response time, being clear and available for flexible display. Because of its many advantages, OLED display is drawing attention as next-generation display. As development speed gets faster of the OLED display, it is necessary to get high reliability and expect life-time in the use environment. Until now, many studies performed accelerated life test to predict the life time of OLED display. Current and temperature are used as general acceleration factors for accelerated life test of OLED display. For this reason, accelerated lifetime test was performed using temperature and current as acceleration factors to predict lifetime of OLED display in this study. There was a luminance rising period in degradation graph from accelerated life test. If the luminance rising period appears, the test time may become longer and the predicted lifetime may become inaccurate. In order to reduce the luminance rising period, the accelerated lifetime test was reexamined using only the current density as an acceleration factor for the second test. After that, lifetime of OLED display was predicted from the results. Additionally, this study suggest how to determine appropriate test time through degradation data. In conclusion, we can confirm that temperature acceleration factor generates luminance rising period, through comparison of the two accelerated life tests. So this study recommends that the temperature be excluded for accurate and fast accelerated life test. Additionally, we confirm that appropriate test time is 1032 hours in the test condition, but it can change depending on level of acceleration factor. | - |
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