교통신호제어기의 내구수명 향상을 위한 신뢰성 기법 적용 방안

DC Field Value Language
dc.contributor.advisor오영태-
dc.contributor.author오봉식-
dc.date.accessioned2018-11-08T08:06:40Z-
dc.date.available2018-11-08T08:06:40Z-
dc.date.issued2014-08-
dc.identifier.other17445-
dc.identifier.urihttps://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/10693-
dc.description학위논문(박사)--아주대학교 일반대학원 :건설교통공학과,2014. 8-
dc.description.abstract국내에 교통신호제어기(TSC)가 설치 운영 중에 있는 수량은 2013년 10월말 현재 약 3만 9천 Set에 달하고 있으며, 이 중에 서울시는 약 3,600 Set를 설치하여 운영 중에 있으며 이 관할 지역 중에 동대문권역과 강동권역의 교체 대상의 수량 중에서 신제품을 처음에 설치하여 운영을 시작한 시점에서부터 교체를 시행하여야 하는 시점에 다다르기까지의 실질적으로 현장에서 사용한 수명이 평균 약 8.4년으로 분석되었으며 이는 내구연한의 국내 규정에 약 16%가 미달하는 등의 문제점을 드러내고 있었다. 또한 TSC의 제품의 개발 설계 단계에서 신뢰성 설계를 적용하고 있지 않고 있을 뿐만 아니라 TSC 신뢰성 예측을 통한 내구연한을 산출하여 적용하고 있지 않는 등의 한계점이 있었다. 다만 기존의 TSC 납품을 위한 품질적합성 평가를 적용하는 방식은 국내의 규격을 적용하여 지정된 공인기관에서 샘플수량 일부만을 시험을 하여 통과하면 공급 납품 전체 물량이 적합한 제품으로 판정을 받는 규정과 제도로 운영되고 있었으며, 현장에 설치하여 운영 중에 내구연한이 잔존하고 있는 기간 중에 고장 발생에 따라 이를 정비하고 시정 조치한 결과 데이터의 관리를 운영하는 체계가 잘 확인되지 않는 등 미흡한 수준으로 운영되고 있는 것으로 분석되었다. 본 논문에서는 위 서울시 교체대상의 수량 중에서 TSC 대표성을 갖는 2종류를 선정하여 신뢰성을 예측한 결과 내용으로는 온도조건(at 40℃)에서 TSC-MCU1은 약 13.7년으로, TSC-MCU2는 약 11.4년으로 내구수명으로 분석되었다. 그러나 주변의 환경온도가 상승(at 80℃)할 시에 내구연한은 TSC-MCU1은 약 28% 감소한 약 9.9년으로, TSC-MCU2는 약 49% 감소한 약 5.8년으로 신뢰성을 나타내는 것으로 예측이 되었으나, 이들은 국내의 내구연한의 규정에는 부적합한 것으로 평가되었다. 또한 국내 TSC의 시험규격 항목에는 EMC(Electromagnetic compatibility), 염수분무시험(Salt Atmosphere and Spay Test), 황사미세먼지에 따른 모래먼지시험(Sand and Dust Test), 황화·부식가스시험(Sulfide corrosive gases test), 복합부식가스시험(Multi-gas corrosion test) 등의 시험 항목을 추가해야 하는 것으로 평가되었다.-
dc.description.tableofcontents차 례 감사의 글 ⅰ 국문 요약 ⅱ 본문 차례 ⅲ 표 차례 ⅴ 그림 차례 ⅶ 제 1 장 서 론 1 제 1 절 연구 배경 및 목적 1 제 2 절 연구 범위 및 방법 6 제 3 절 논문의 구성 12 제 2 장 이론적 고찰 14 제 1 절 신뢰성 설계 14 제 2 절 기존 연구 고찰 65 제 3 장 교통신호제어기의 운영 및 고장 발생 특성 분석 74 제 1 절 서울시 교통신호제어기의 운영 특성 분석 74 제 2 절 교통신호제어기 고장 발생 특성 분석 84 제 3 절 소결론 93 제 4 장 교통신호제어기(TSC) 신뢰성 예측 95 제 1 절 교통신호제어기(TSC) 기존 설계 시 구성품의 특성 분석 96 제 2 절 교통신호제어기(TSC) 신뢰성 예측 98 제 3 절 분석 결과 114 제 5 장 신뢰성 예측 및 시험 규격의 평가 117 제 1 절 신뢰성 예측 평가 117 제 2 절 시험 규격 평가 131 제 6 장 결론 및 향후 연구과제 146 제 1 절 결 론 146 제 2 절 향후 연구 과제 152 ※ 부록(Appendix) 153 ※ 부록 1. TSC-MCU1 신뢰성 예측한 산출데이터 154 ※ 부록 2. TSC-MCU1 신뢰성 예측한 산출데이터 160 ※ 부록 3. TSC-MCU2 신뢰성 예측한 산출데이터 179 ※ 부록 4. TSC-MCU부 주요 구성 및 특성 207 ※ 부록 5. 약어 및 용어 정의 213 참고문헌 218 Abstract 222 표 차례 표 1. 병렬결합 리던던시의 평균수명 17 표 2. 실험·경험 스트레스 분석 예측 기술의 국외 사례 24 표 3. 집적회로(IC) 고장률 산출모델에서 적용하는 주요 인자 24 표 4. 사용온도변화별 평균수명 변환 요인 값 28 표 5. 전자장치 신뢰성 확인시험 조건 30 표 6. 고장메커니즘과 수명·스트레스의 영향 관계 30 표 7. 신뢰도향상을 위한 디레이팅 적용 사례 32 표 8. 주요 환경 변화가 전기·전자부품 고장에 미치는 관계 34 표 9. 전기·전자부품 신뢰성에 중요 영향인자 34 표 10. 교통신호제어기의 제어방식별 규격 적용 범위 38 표 11. 국내 교통신호제어기의 제품규결 별 형식의 변경 히스토리 43 표 12. 교통신호제어기의 환경시험 국가별 표준 규격 비교 47 표 13. 교통신호제어기의 국가 별 환경시험 규격 비교 48 표 14. 교통신호제어기 MCU 환경시험 스트레스 세부 조건 51 표 15. 교통신호제어기(TSC) MCU 환경시험 스트레스 조건 53 표 16. 교통신호제어기의 초기고장 발생 정보 데이터 분석 내용 59 표 17. 신뢰성 관련 DOD 표준 규격 61 표 18. 신뢰성 관련 MIL-HDBK 표준 규격 61 표 19. 신뢰성 관련 MIL-STD 표준 규격 62 표 20. 신뢰성 시험 관련 MIL-STD 표준 규격 62 표 21. 신뢰성 관련 기타 표준 규격 63 표 22. 교통신호등과 교통신호제어기 내구연한 64 표 23. 신뢰성 관련 국내 학위논문 연구 동향 66 표 24. 국내 신뢰성 관련 타 유사 시스템의 연구 동향 67 표 25. 국외 신뢰성 관련 연구 동향 69 표 26. IEC 61508 관련 각 분야의 기능 안전표준 72 표 27. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 특성 분석 - 서울시 76 표 28. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 특성 분석 - 서울시 강동권역 77 표 29. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 현황 - 강동권역 78 표 30. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 특성 분석 - 서울시 동대문권역 79 표 31. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 현황 - 동대문권역 80 표 32. 교통신호제어기의 교체분 설치 운영 현황 - 서울시 81 표 33. 국내 지역별 교통신호제어기 설치운영 현황 82 표 34. 교통신호제어기의 고장률 정보 데이터 86 표 35. 교통신호제어기의 고장률 정보 데이터-강동권역 88 표 36. 교통신호제어기의 고장률 정보 데이터-동대문권역 89 표 37. TSC-MCU 개발 설계 단계에서 신뢰성 예측 프로세스 101 표 38. 집적회로(IC)의 신뢰성 예측 산출 모델에서 적용하는 주요 인자 103 표 39. 마이크로스위치(IC)의 환경팩터를 적용한 신뢰성 예측 순서 및 방법 103 표 40. TSC-MCU1 과 TSC-MCU2의 설계에 사용한 부품구성의 비교 평가 116 표 41. 교통신호제어기(TSC) MCU1, 환경 온도(80℃)변화 시 신뢰성 예측 결과 119 표 42. 교통신호제어기(TSC) MCU2, 환경 온도(80℃)변화 시 신뢰성 예측 결과 122 표 43. TSC-MCU1 및 TSC-MCU2 신뢰성 예측 결과 데이터 125 표 44. 교통신호제어기(TSC) MCU1 경년변화별 신뢰성 129 표 45. 교통신호제어기(TSC) MCU2 경년변화별 신뢰성 130 표 46. 교통신호제어기(TSC) MCU1 & MCU2 경년변화별 신뢰성 평가 130 표 47. 국가별 교통신호제어기 고장상황 클래스별 교통신호 운영 분석 평가 136 표 48. 교통신호제어기의 환경시험 표준 규격 검증 분석 평가 137 표 49. TSC-MCU 환경시험 항목에 대하여 전문가의 전문적 의견 내용 평가 (P.1/2) 140 표 50. TSC-MCU 환경시험 항목에 대하여 전문가의 전문적 의견 내용 평가 (P.2/2) 141 표 51. 교통신호제어기의 신뢰성보증 확립 시 전략 단계 별 분석 평가 143 그림 차례 그림 1. 신뢰성 설계 트레이드오프 개념 16 그림 2. 신뢰성 기반의 하드웨어 리던던시 설계기술 18 그림 3. RAC 전기·전자부품 데이터베이스 분산 26 그림 4. 전자시스템의 고장요인 27 그림 5. 환경팩터 조건 별 스트레스(Stress) 신뢰성 시험 29 그림 6. 욕조형곡선과 지수분포곡선 36 그림 7. 도시부간선도로 시스템 구성도(설계 구축 사례) 39 그림 8. 교통신호제어기(TSC) 시스템 구성도 41 그림 9. 환경 온·습도반복시험 구성도 50 그림 10. 교통신호제어기(TSC) 환경시험 진행순서 52 그림 11. 환경사이클 결합형방법 환경신뢰성시험 프로파일 55 그림 12. 교통신호제어기 내구연한 이전 녹 발생 상태 58 그림 13. 국내 교통신호제어기 종류별 설치 수량 83 그림 14. 교통신호제어기 현장 사용기간(실제 사용 연수) - 서울시 87 그림 15. 교통신호제어기 제품 공급사 특성 분석 - 서울시 87 그림 16. 교통신호제어기 현장 사용기간(실제 사용 연수)-강동권역 88 그림 17. 교통신호제어기 현장 사용기간(실제 사용 수명)-동대문권역 89 그림 18. 교통신호제어기 교체분 설치 운영 현황 - 서울시 91 그림 19. 교통신호제어기 교체분 설치 운영 현황 - 서울시 92 그림 20. 교통신호제어기(TSC) MCU1 온도변화 시 확률밀도함수 신뢰성 예측비교 121 그림 21. 교통신호제어기(TSC) MCU1 +40℃, +80℃ 각 경년변화별 신뢰성 예측 121 그림 22. 교통신호제어기(TSC) MCU2 온도변화 시 확률밀도함수 신뢰성 예측비교 124 그림 23. 교통신호제어기(TSC) MCU2 +40℃, +80℃ 각 경년변화별 신뢰성 예측 124 그림 24. TSC-MCU1과 TSC-MCU2 신뢰성 예측 평가 - 확률밀도함수 127 그림 25. TSC-MCU1과 TSC-MCU2 신뢰성 예측 평가 - 경년변화에 따른 신뢰도 127 그림 26. TSC-MCU 환경시험 규격 특성 평가 - 모래먼지시험 외 4종 142 그림 27. TSC-MCU 환경시험 규격 비교 및 특성 평가 - 모래먼지시험 외 4종 142 그림 28. FRACAS의 신뢰성 정보관리 구축 시 중요성 평가 144-
dc.language.isokor-
dc.publisherThe Graduate School, Ajou University-
dc.rights아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.-
dc.title교통신호제어기의 내구수명 향상을 위한 신뢰성 기법 적용 방안-
dc.title.alternativeBong Sik OH-
dc.typeThesis-
dc.contributor.affiliation아주대학교 일반대학원-
dc.contributor.alternativeNameBong Sik OH-
dc.contributor.department일반대학원 건설교통공학과-
dc.date.awarded2014. 8-
dc.description.degreeDoctoral-
dc.identifier.localId652598-
dc.identifier.urlhttp://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000017445-
dc.subject.keyword교통신호제어기-
dc.description.alternativeAbstractDomestic Traffic Signal Controller(TSC) in quantity during the Installation and Operation of October 2013, Approximately 39,000 Sets. Seoul City has about 3,600 Sets during the Installation and Operation. And Seoul City(Dongdaemun & Gangdong Regions) to Determine the quantity of the Target was the Replacement. On the other hand TSC replacement from the time of initial installation of the operating point at the end of its useful Life-Time if the criteria are analyzed. Substitution is performed at a point in the "P-Manual" by NPA(National Police Agency in R.O.KOREA) regulation of the TSC is satisfied and whether the useful Life-Time analysis. These products are TSC "P-Manual" useful Life-Time is average 8.4 years based on total amount of the nonconforming. It has a useful Life-Time of about 16% of the criteria are not satisfied with the results of that. In addition, TSC at the Research & Design Phase of the Manufacturing & Technology Development does not apply and Reliable Design as well as through the TSC Reliability Prediction is calculated and applied to the useful Life-Time of such limitations that were not. However, the existing conformity assessment applying the TSC quality standard of Domestic accredited by Applying Only a portion of the Test Sample Quantities and Pass the Delivery Quantity Supplied is suitable for the Entire-Set amount determined under the rules and Public-Institutions were operating. On-site Installation and during operation of the Remaining useful Life-Time during this failure and corrective action(ie. FRACAS) in accordance with the result of this Maintenance Operation and Management of data in such systems is not well confirmed the insufficient level of operations was analyzed. In this Paper, Two Supplies-Kind of TSC were selected by a Representative, TSC with respect to the MCU(Main-Control-Unit, hereinafter is called "TSC-MCU") in Reliability Prediction by MIL-HDBK-217F(Notice2). "TSC-MCU1" from the basic temperature at 40℃ Reliability Prediction of data useful life of approximately 13.7 years. "TSC-MCU2" from the basic temperature at 40℃ Reliability Prediction of data useful Life-Time of approximately 11.4 years. Environmental Temperature at 80℃ "TSC-MCU1" is Reliability Prediction of data useful life of approximately 9.91 year(28% reduction, compared to at 40℃). And Environmental Temperature at 80℃ "TSC-MCU2" is Reliability Prediction of data useful life of approximately 5.84 Year(49% reduction, compared to at 40℃). However In this case, the "P-Manual" corresponds to the useful Life-Time is nonconforming. Environmental Test item with respect to the Environment in Europe, and the United States with the Standard information, analyzes the results of applying the contents of the Environment Applied to the Test Items of the test carried out by Adding the Environment is Needed. In contrast to the Test Items that Require Additional 『EMC(Electromagnetic compatibility), Salt Atmosphere and Spay Test, according to the Sand and Dust Test, Sulfide Corrosive Gases Test, Multi-Gas Corrosion Test』and so on.-
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Graduate School of Ajou University > Department of Construction and Transportation Engineering > 4. Theses(Ph.D)
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